ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等。 可應用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表征...
SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器， 通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干形成的反射譜，測量薄膜的厚度和光學常數。
SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？蓪崿F科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。
SE-VE是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀。高性價比光學橢偏測量解決方案緊湊集成設計，使用簡便，一鍵快速測量向導交互式人機界面，便捷的軟件操作體驗豐富的材料數據庫和算法模型庫，強大的數據分
