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    SR-M顯微膜厚儀
  • 一、概述

    SR-M 針對特定微小區域,可提供微米級的聚焦光斑,同時利用顯微物鏡定位測量點,從而獲取精準位置的厚度表征結果。

    ■ 光斑大小可進行定制,最小可達到10um;

    ■ 非接觸、非破壞測量;

    ■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析;

    ■ 配置靈活、支持定制化

    二、產品特點

    ■ 采用高強度鹵素光源,光源穩定性好;

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    ■ 采用光機電高度整合一體化設計,體積小,操作簡便;

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    ■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理,輕松解析單層薄膜到多層;


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    三、產品應用

    廣泛應用于各種介質保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量。


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